8測量結(jié)果計(jì)算
8.1直接讀數(shù)的測量儀,對分立點(diǎn)式測量,選出t1、t2、t3、t4、t5中最大值和最小值,然后求其差值;對掃描式測量,由厚度最大測量值減去最小測量值,將此差值記錄為總厚度變化。
8.2倘若儀器不是直接讀數(shù)的,對每個(gè)硅片要計(jì)算每對位移值a和b之和,同時(shí),檢查和值,確定最大和最小值。根據(jù)下列關(guān)系計(jì)算總厚度變化(TTV) :
9精密度
通過對厚度范圍360μm-500μm,直徑76.2mm±0.4mm,研磨片30片,拋光片172片,在7個(gè)實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行了循環(huán)測量。
9.1非接觸式測量
9.1.1對非接觸式厚度測量,單個(gè)實(shí)驗(yàn)室的2。標(biāo)準(zhǔn)偏差小于5.4μm,多個(gè)實(shí)驗(yàn)室的精密度為±0.7%。
9.1.2對非接觸式總厚度變化(TTV)測量,單個(gè)實(shí)驗(yàn)室的2。標(biāo)準(zhǔn)偏差掃描法小于3.8μm,分立點(diǎn)式小于4.9µm;多個(gè)實(shí)驗(yàn)室間的精密度掃描法為±19%,分立點(diǎn)式為±38%。
9.2接觸式測量
9.2.1對于接觸式厚度測量,單個(gè)實(shí)驗(yàn)室的2。標(biāo)準(zhǔn)偏差小于4.3μm,多個(gè)實(shí)驗(yàn)室間的精密度為±0.4%。
9.2.2對于接觸式總厚度變化測量,單個(gè)實(shí)驗(yàn)室的2a標(biāo)準(zhǔn)偏差小于3.6μm,多個(gè)實(shí)驗(yàn)室間的精密度為±32%。
10試驗(yàn)報(bào)告
試驗(yàn)報(bào)告應(yīng)包括下列內(nèi)容:
a)試樣批號、編號;
b)硅片標(biāo)稱直徑;
c)測量方式說明;
d)使用厚度測量儀的種類和型號,
e)中心點(diǎn)厚度;
f)硅片的總厚度變化;
g)本標(biāo)準(zhǔn)編號;
h)測量單位和測量者;
i)測量日期。